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晶圆缺陷检测设备
晶圆缺陷检测设备备件
照相机
设备
F5X
规格
COHU CAMERA,REWORKED,TCN-3866
八寸校准晶片204
设备
SP1 TBI & DLS
规格
STD, ABS, CONTAM, KTR8-204D, SP1-TBI
八寸晶圆光片
设备
SP1 TBI & DLS
规格
Bare Wafer 8 inches
真空过滤器
设备
Archer AIM+
规格
Vacuum Filter
电磁阀
设备
Archer AIM+
规格
AMS valveAMS
快门电磁阀
设备
Archer AIM+
规格
Shutter Valve/
电源线
设备
规格
CBL ASSY,PWR MODULE/DISTR SP1 DLS
75毫瓦气态镭射,波长488纳米--暗场缺陷量测机台使用
设备
AIT2
规格
2213-75TSLKTB Argon Laser Head, true single line
镭射节点电路板
设备
SP1 TBI & DLS
规格
PCB ASSY,LASER NODE
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